国家/地区 Japan（2）
关键词 HELIUM ION MICROSCOPE（2）
出版物
出版时间
机构
作者 OGAWA S（2）

Conductance Tunable Suspended Graphene Nanomesh by Helium Ion Beam Milling

MICROMACHINES

LIU FY, WANG ZW, NAKANAO S, OGAWA S, MORITA Y, SCHMIDT M, HAQUE M, MURUGANATHAN M, MIZUTA H

Conduction Tuning of Graphene Based on Defect-Induced Localization

ACS NANO

NAKAHARAI S, IIJIMA T, OGAWA S, SUZUKI S, LI SL, TSUKAGOSHI K, SATO S, YOKOYAMA N