国家/地区 Korea（2）
关键词 DISCHARGE CURRENT ANALYSIS DCA（2）
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作者 LEE BH（2）

Extraction of the Interface State Density of Top-Gate Graphene Field-Effect Transistors

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

JUNG U, KIM YJ, KIM Y, LEE YG, LEE BH

Non-destructive defect level analysis of graphene using amplitude-modulated discharge current analysis

CARBON

KIM SM, LEE HI, LEE Y, KIM SY, YOO TJ, HEO S, KANG SC, HWANG HJ, LEE BH