国家/地区 Netherlands（3）
关键词
出版物 JOURNAL OF APPLIED .（2）
出版时间 2014（2）
机构 FOM DUTCH INST FUNDAMENTAL ENERGY RES（3）
作者 BIJKERK F（3） GAO A（3） LEE CJ（3） ZOETHOUT E（2）

Defect formation in single layer graphene under extreme ultraviolet irradiation

APPLIED SURFACE SCIENCE

GAO A, ZOETHOUT E, STURM JM, LEE CJ, BIJKERK F

Graphene defect formation by extreme ultraviolet generated photoelectrons

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS

GAO A, LEE CJ, BIJKERK F

Extreme ultraviolet induced defects on few-layer graphene

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS

GAO A, RIZO PJ, ZOETHOUT E, SCACCABAROZZI L, LEE CJ, BANINE V, BIJKERK F