国家/地区 | Usa(3) |
关键词 |
GRAPHENE(3)
CONTACT RESISTANCE(2)
FIELDEFFECT TRANSIS.(2)
|
出版物 | IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS(3) |
出版时间 | |
机构 | IBM CORP(2) |
作者 | FRANKLIN AD(3) |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
FRANKLIN AD, OIDA S, FARMER DB, SMITH JT, HAN SJ, BRESLIN CM, GIGNAC L
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
FRANKLIN AD, HAN SJ, BOL AA, PEREBEINOS V
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
FRANKLIN AD, HAN SJ, BOL AA, HAENSCH W