国家/地区 Usa（3）
关键词 BILAYER GRAPHENE BL.（2） BREAKDOWN（2） RELIABILITY（2）
出版物
出版时间 2010（2）
机构 SUNY ALBANY（3）
作者 NAGABHIRAVA B（3）

Bilayer Graphene/Copper Hybrid On-Chip Interconnect: A Reliability Study

IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY

YU TH, LEE EK, BRIGGS B, NAGABHIRAVA B, YU B

Electromechanical robustness of monolayer graphene with extreme bending

APPLIED PHYSICS LETTERS

BRIGGS BD, NAGABHIRAVA B, RAO G, GEER R, GAO HY, XU Y, YU B

Bilayer Graphene System: Current-Induced Reliability Limit

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

YU TH, LEE EK, BRIGGS B, NAGABHIRAVA B, YU B