| 国家/地区 | Germany（4） Sweden（2） |
| 关键词 |
GRAPHENE（3）
RF（2）
STATISTIC（2）
WAFERSCALE FABRICAT.（2） |
| 出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.（2） |
| 出版时间 |
2017（6）
|
| 机构 | KTH ROYAL IN.（2） RHEIN WESTFA.（2） UNIV SIEGEN（2） |
| 作者 |
KATARIA S（6）
|
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
PANDEY H, KATARIA S, GAHOI A, LEMME MC
ANNALEN DER PHYSIK
PANDEY H, AGUIRREMORALES JD, KATARIA S, FREGONESE S, PASSI V, IANNAZZO M, ZIMMER T, ALARCON E, LEMME MC
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
ACS PHOTONICS
RIAZIMEHR S, KATARIA S, BORNEMANN R, BOLIVAR PH, RUIZ FJG, ENGSTROM O, GODOY A, LEMME MC
NANO LETTERS
WAGNER S, DIEING T, CENTENO A, ZURUTUZA A, SMITH AD, OSTLING M, KATARIA S, LEMME MC