| 国家/地区 |
Usa（3）
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| 关键词 | |
| 出版物 | |
| 出版时间 |
2018（3）
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| 机构 |
NIST（3）
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| 作者 |
LEE HY（3）
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SCIENTIFIC REPORTS
HU JN, RIGOSI AF, KRUSKOPF M, YANG YF, WU BY, TIAN JF, PANNA AR, LEE HY, PAYAGALA SU, JONES GR, KRAFT ME, JARRETT DG, WATANABE K, TANIGUCHI T, ELMQUIST RE, NEWELL DB
PHYSICAL REVIEW B
HU JN, RIGOSI AF, LEE JU, LEE HY, YANG YF, LIU CI, ELMQUIST RE, NEWELL DB
MICROELECTRONIC ENGINEERING
RIGOSI AF, LIU CI, WU BY, LEE HY, KRUSKOPF M, YANG YF, HILL HM, HU JN, BITTLE EG, OBRZUT J, WALKER ARH, ELMQUIST RE, NEWELL DB