国家/地区 Usa（2）
关键词 BREAKDOWN（2）
出版物
出版时间
机构 SUNY ALBANY（2）
作者 BRIGGS B（2） LEE EK（2） NAGABHIRAVA .（2） YU B（2）
YU TH（2）

Bilayer Graphene/Copper Hybrid On-Chip Interconnect: A Reliability Study

IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY

YU TH, LEE EK, BRIGGS B, NAGABHIRAVA B, YU B

Bilayer Graphene System: Current-Induced Reliability Limit

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

YU TH, LEE EK, BRIGGS B, NAGABHIRAVA B, YU B