国家/地区 Usa(3)
关键词 CONTACT RESISTANCE(2) FIELDEFFECT TRANSIS.(2) GRAPHENE(2)
出版物 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS(3)
出版时间 2011(2)
机构 IBM TJ WATSO.(2)
作者 BOL AA(3)

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

FRANKLIN AD, HAN SJ, BOL AA, PEREBEINOS V

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

FRANKLIN AD, HAN SJ, BOL AA, HAENSCH W

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

HAN SJ, CHEN ZH, BOL AA, SUN YN