国家/地区 | Usa(3) |
关键词 |
CONTACT RESISTANCE(2)
FIELDEFFECT TRANSIS.(2)
GRAPHENE(2)
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出版物 | IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS(3) |
出版时间 | 2011(2) |
机构 | IBM TJ WATSO.(2) |
作者 | BOL AA(3) |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
FRANKLIN AD, HAN SJ, BOL AA, PEREBEINOS V
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
FRANKLIN AD, HAN SJ, BOL AA, HAENSCH W
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
HAN SJ, CHEN ZH, BOL AA, SUN YN