| 国家/地区 | Sweden（2） |
| 关键词 |
GRAPHENE（3）
RF（2）
STATISTIC（2）
WAFERSCALE FABRICAT.（2） |
| 出版物 |
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES（3）
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| 出版时间 | 2017（2） |
| 机构 | KTH ROYAL IN.（2） |
| 作者 |
KATARIA S（3）
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
PANDEY H, SHAYGAN M, SAWALLICH S, KATARIA S, ZHENXING W, NOCULAK A, OTTO M, NAGEL M, NEGRA R, NEUMAIER D, LEMME MC
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M