国家/地区 美国(4) 世界知识产权组织(4) 中国(2) 日本(2) 韩国(2)
IPC部 C(4)
IPC大类 C01(4) B05(2) B82(2)
C23(2)
IPC小类 C01B(4)
IPC B05D003/00(2) B82Y030/00(2) B82Y040/00(2)
C01B032/194(2)
发明人 LEE S(4)
公开年 2019(2)
申请年 2018(2) 
专利权人 NANOTEK INSTR INC(4)