| 国家/地区 | Sweden（9） Germany（5） |
| 关键词 |
GRAPHENE（14）
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| 出版物 |
NANO LETTERS（3）
SOLIDSTATE ELECTRON.（3）
IEEE TRANSACTIONS O.（2）
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| 出版时间 | 2013（4） 2017（3） 2015（2） |
| 机构 | KTH ROYAL IN.（9） UNIV SIEGEN（4） |
| 作者 |
SMITH AD（14）
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NANO LETTERS
FAN XG, FORSBERG F, SMITH AD, SCHRODER S, WAGNER S, OSTLING M, LEMME MC, NIKLAUS F
ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES
QUELLMALZ A, SMITH AD, ELGAMMAL K, FAN XG, DELIN A, OSTLING M, LEMME M, GYLFASON KB, NIKLAUS F
PHYSICA STATUS SOLIDI AAPPLICATIONS MATERIALS SCIENCE
KATARIA S, WAGNER S, RUHKOPF J, GAHOI A, PANDEY H, BORNEMANN R, VAZIRI S, SMITH AD, OSTLING M, LEMME MC
SOLIDSTATE ELECTRONICS
SMITH AD, VAZIRI S, NIKLAUS F, FISCHER AC, STERNER M, DELIN A, OSTLING M, LEMME MC
NANO LETTERS
SMITH AD, NIKLAUS F, PAUSSA A, VAZIRI S, FISCHER AC, STERNER M, FORSBERG F, DELIN A, ESSENI D, PALESTRI P, OSTLING M, LEMME MC
SOLIDSTATE ELECTRONICS
VAZIRI S, LUPINA G, PAUSSA A, SMITH AD, HENKEL C, LIPPERT G, DABROWSKI J, MEHR W, OSTLING M, LEMME MC
NANO LETTERS
VAZIRI S, LUPINA G, HENKEL C, SMITH AD, OSTLING M, DABROWSKI J, LIPPERT G, MEHR W, LEMME MC
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
SURFACE SCIENCE
ELGAMMAL K, HUGOSSON HW, SMITH AD, RASANDER M, BERGQVIST L, DELIN A