国家/地区 Usa（3）
关键词 BREAKDOWN（3）
出版物 IEEE ELECTRON DEVIC.（2）
出版时间 2011（2）
机构 SUNY ALBANY（2）
作者 YU TH（3）

Formation of Graphene p-n Junction via Complementary Doping

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

YU TH, KIM C, LIANG CW, YU B

Bilayer Graphene/Copper Hybrid On-Chip Interconnect: A Reliability Study

IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY

YU TH, LEE EK, BRIGGS B, NAGABHIRAVA B, YU B

Bilayer Graphene System: Current-Induced Reliability Limit

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

YU TH, LEE EK, BRIGGS B, NAGABHIRAVA B, YU B