| 国家/地区 |
Usa（5）
|
| 关键词 |
EPITAXIAL GRAPHENE（5）
|
| 出版物 | |
| 出版时间 | 2018（3） |
| 机构 | NIST（3） NATL INST ST.（2） |
| 作者 |
ELMQUIST RE（5）
|
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
PAYAGALA SU, RIGOSI AF, PANNA AR, POLLAROLO A, KRUSKOPF M, SCHLAMMINGER S, JARRETT DG, BROWN R, ELMQUIST RE, BROWN D, NEWELL DB
METROLOGIA
KRUSKOPF M, ELMQUIST RE
MICROELECTRONIC ENGINEERING
RIGOSI AF, LIU CI, WU BY, LEE HY, KRUSKOPF M, YANG YF, HILL HM, HU JN, BITTLE EG, OBRZUT J, WALKER ARH, ELMQUIST RE, NEWELL DB
2D MATERIALS
RIGOSI AF, HILL HM, GLAVIN NR, POOKPANRATANA SJ, YANG YF, BOOSALIS AG, HU JN, RICE A, ALLERMAN AA, NGUYEN NV, HACKER CA, ELMQUIST RE, WALKER ARH, NEWELL DB
CARBON
YANG YF, CHENG GJ, MENDE P, CALIZO IG, FEENSTRA RM, CHUANG C, LIU CW, LIU CI, JONES GR, WALKER ARH, ELMQUIST RE