国家/地区 | Germany(6) Sweden(3) |
关键词 | GRAPHENE(9) |
出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.(2) |
出版时间 | 2019(3) 2017(2) |
机构 | KTH ROYAL IN.(4) RHEIN WESTFA.(3) |
作者 | WAGNER S(9) |
ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
WITTMANN S, AUMER F, WITTMANN D, PINDL S, WAGNER S, GAHOI A, REATO E, BELETE M, KATARIA S, LEMME MC
NANO LETTERS
FAN XG, FORSBERG F, SMITH AD, SCHRODER S, WAGNER S, OSTLING M, LEMME MC, NIKLAUS F
ACS APPLIED NANO MATERIALS
WITTMANN S, GLACER C, WAGNER S, PINDL S, LEMME MC
ACS PHOTONICS
RIAZIMEHR S, KATARIA S, GONZALEZMEDINA JM, WAGNER S, SHAYGAN M, SUCKOW S, RUIZ FG, ENGSTROM O, GODOY A, LEMME MC
PHYSICA STATUS SOLIDI AAPPLICATIONS MATERIALS SCIENCE
KATARIA S, WAGNER S, RUHKOPF J, GAHOI A, PANDEY H, BORNEMANN R, VAZIRI S, SMITH AD, OSTLING M, LEMME MC
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
ACS NANO
SMITH AD, NIKLAUS F, PAUSSA A, SCHRODER S, FISCHER AC, STERNER M, WAGNER S, VAZIRI S, FORSBERG F, ESSENI D, OSTLING M, LEMME MC
2D MATERIALS
GUGEL D, NIESNER D, EICKHOFF C, WAGNER S, WEINELT M, FAUSTER T