国家/地区 欧洲专利局（EPO）（6）
IPC部 C（6） B（4） G（2）
H（2）
IPC大类 C01（5） C08（3） C09（3）
B01（2） B82（2） C10（2）
H01（2）
IPC小类 C01B（5） C08L（3） B01D（2）
C08J（2） C08K（2） C09D（2）
C09K（2） H01G（2） H01M（2）
IPC C01B031/02（4） C01B031/04（4） C01B032/182（3）
C01B032/194（3） B01D067/00（2） B01D069/10（2）
B01D069/12（2） B01D071/02（2） C01B000/00（2）
C01B032/05（2） C01B032/19（2） C08K003/04（2）
C09D005/24（2） C09D007/12（2） H01G011/32（2）
发明人 KANEKO K（2） MURADA K（2） MURATA K（2）
TAKAGI T（2）
公开年 2016（4） 2015（2）
申请年 2015（6）
专利权人 KOTOBUKI TSU.（2） UNIV SHINSHU（2）

Apparatus e.g. battery, has charge collector, ionic layer comprising room temperature ionic fluid and solidifying material, graphene oxide provided on charge collector and conductive material spaced apart from charge collector.

WEI D, ZARRA S

Manufacturing method of filter molded object, involves holding graphene layer under low temperature heating for predetermined time in-air contains specific oxygen range and forming graphene water flow hole.

KANEKO K, TAKAGI T, MURATA K, MURADA K, KATSUMI K, TOSHIO T, KATSUYUKI M

Manufacture of molded filter material involves forming support layer on graphene layer formed on initial stage substrate for graphene, forming water passage hole in support layer, and forming water passage hole in graphene layer.

KANEKO K, TAKAGI T, MURATA K, MURADA K, TAKAGE T, TAKAGI H

Synthesis of graphene derivatives and functional materials used in e.g. transistors, sensors, actuators, pharmaceutical, information displays and semiconductor comprises forming refluxed solution of starting material and additive.

TANIMOLA O W

Coating composition for coated structure comprises binder system e.g. epoxy-based and/or silicate-based, zinc particles, microspheres, and conductive pigment e.g. graphite, carbon black, graphene, aluminum, black iron oxide, and/or mica.

CAMPS M B, PAULSEN A L, BARGALLO J P, VOSTRACKA T, VOSTRACKAI T, BARGALLO Y P

Graphite-based carbon material used as graphene precursor for preparing graphene dispersion, comprises rhombohedral graphite layer and hexagonal graphite layer, and has specified rate calculated based on X-ray diffraction method.

HASEGAWA S, KAMIYA N, HASEGAWA SHOJI, KAMIYA NAGISA, SHOJI H, NAGISA K, SHEN Y