国家/地区 中国（6）
IPC部 B（6）
IPC大类 B21（6）
IPC小类 B21B（6）
IPC C22C009/00（5） C22F001/08（5） B21B001/40（4）
B21B003/00（3） B82Y030/00（3） C01B031/02（3）
C01B031/04（3） C22C009/02（3） B01J023/72（2）
B01J027/04（2） B01J037/00（2） B01J037/18（2）
B21B001/00（2） B21B001/38（2） B32B015/20（2）
发明人 CHIBA G（3） CHIBA Y（3） YOSHIHIRO C（3）
TATSUYA Y（2） YAMAJI T（2）
公开年 2012（2） 2022（2）
申请年 2012（3）  2021（2） 
专利权人 JX NIPPON MI.（3） NIPPON MININ.（3） NIPPON MININ.（3） NIPPON MININ.（2）

Preparing non-metallic quantum dot magnesium-lithium alloy-based composite material useful in aerospace, rail traffic, and automobile industry, comprises e.g. preparing two magnesium-lithium alloy plates, treating surface and performing multi-pass friction stir processing and multi-pass rolling.

LEI W, LU Y, LI X, CHEN X, MA K, ZHANG Y

Preparing copper-chromium-zirconium alloy layered belt material with composite deformation of graphene/copper, involves subjecting bulk copper-chromium-zirconium alloy to solid solution treatment, carrying out room temperature iso-channel extruding, low temperature rolling, stacking and vacuum-aging.

WANG D, AN X, DU Q, WEI K, YAO L, WEI W

Method for preparing high-strength and high-conductivity copper/graphene composite material, involves conducting electrical and thermal conductivity, tensile properties and other tests on rolled clad sheet and heat-treated clad sheet, and comparing and observing microstructures.

YI Y, WANG G, ZHANG S, YU H, ZHANG X, JIANG Q

Copper foil for manufacturing graphene, has specified arithmetic mean roughness in rolling parallel direction and rolling perpendicular direction.

CHIBA YOSHIHIRO, CHIBA Y, CHIBA G, YOSHIHIRO C

Copper foil for manufacturing graphene, has specified sum total of oxides and sulfides having diameter of below preset value before heating under hydrogen and argon-containing atmosphere.

CHIBA Y, YAMAJI T, YOSHIHIRO C, TATSUYA Y, CHIBA G

Copper foil for manufacturing graphene, has specified total number of oxide and sulfide having specified diameter with respect to elemental-analysis measurement of surface using scanning electron microscope.

CHIBA Y, YAMAJI T, YOSHIHIRO C, TATSUYA Y, CHIBA G