国家/地区 美国（25） 世界知识产权组织（20） 韩国（16） 中国（15） 欧洲专利局（EPO）（13） 日本（13） 德国（3） 印度（3） 台湾（3）
IPC部 G（55）
IPC大类 H01（55） G01（38） C01（15）
B82（8） G02（8） G21（7）
B01（4） B32（4） C23（4）
H05（4） G06（3） B05（2）
C09（2） C12（2） F21（2）
IPC小类 H01J（55）
IPC H01J037/20（18） G01N001/28（11） C01B031/04（7）
H01J037/26（7） G01N023/04（6） C01B031/02（5）
G01N027/62（5） B82Y030/00（4） B82Y040/00（4）
G01N001/36（4） G21K001/00（4） H01J049/00（4）
B82B003/00（3） B82Y035/00（3） C01B032/194（3）
发明人 DINH H（2） FAN S（2） HAN S（2）
HASEGAWA M（2） HIEU D（2） JIANG K（2）
KHE N（2） LEE J（2） NGUYEN K C（2）
ROSAMOLINAR E（2） SUTTER E A（2） SUTTER P W（2）
VAN DEURSEN P M G（2） ZHANG L（2）
公开年 2021（11） 2011（5） 2022（5） 2012（4） 2020（4） 2023（4） 2013（3） 2014（3） 2015（3） 2016（3） 2017（3） 2018（3） 2010（2） 2019（2）
申请年 2020（7）  2021（7）  2010（6）  2019（6）  2011（4）  2015（4）  2013（3）  2016（3）  2017（3）  2022（3）  2009（2）  2012（2）  2014（2）  2018（2） 
专利权人 BROOKHAVEN S.（2） DINH H（2） HAMAMATSU PH.（2） HON HAI PREC.（2）
HONGFUJIN PR.（2） K TUBE TECHN.（2） NAT INST ADV.（2） NGUYEN K C（2）
SAMSUNG ELEC.（2） UNIV ANTWERP.（2） UNIV KANSAS（2） UNIV TSINGHU.（2）
UNIV YONSEI .（2）

Achieving uniform film type deposition of functionalized graphene platelets on carbon fiber fabric, comprises e.g. preparing aqueous solution comprising magnesium salt and solvent, and subjecting solution to sonication.

SINGH A, JATOTHU P K

Graphene grid used for structural analysis of substance e.g. beta-galactosidase, vacuolar-type adenosine triphosphatase and ferritin, using cryo-electron microscope, has structure in which functional group containing silicon atom and/or phosphorus atom are introduced on graphene surface.

HARUYASU A, MAIKO M, TSUYOSHI I

Thin-film-based assembly for analyzing e.g. proteins in graphene liquid cell, has support base and thin film placed on support base, where spherical nanoparticle is placed between thin film and support base.

VAN DEURSEN P M G

Particle penetration determining device for use in quantum computer, has layer arranged between particle source and material, where layer changes its resistance when particle penetrates, and determining unit determining change in resistance.

ESQUINAZI P D, MEIJER J B, KUEPPER J

Device for fast detecting ion signals in mass spectrometers of graphene electrode, has graphene electrode that is fixed on side of ion leading-out end of mass spectrometer mass analyzer, and current and voltage detection device for measuring current signal generated.

DING C, YAN Y, XU F, JIN L, JIANG Y, DAI X, FANG X

Device for supporting e.g. transmission electron microscopy sample in advanced material engineering, has graphene layer for covering hole in membrane to form sample support to place sample.

PEDRAZO TARDAJOS A, BALS S

Metasurface element for electron tube, has metal layer that extends beyond metal pattern to reach region on surface of support portion, and region is not formed with metal pattern.

NAOYA K, HIDEAKI Y, YUYA S, GENKI N, KAWAI N, YOSHIARA H, SUZUKI Y, NAKAGOMI G

Electron microscopy grid used for immobilizing analyte for determining structure of analyte, comprises perforated substrate, support film on perforated substrate, and mixture of linker molecules attached to support film via anchoring group.

VAN PUTTE W, REICHERT T, TIMMERMANS J

Beam profile monitor for measuring space distribution of beam intensity of charged particle beam emitted from linear accelerator, has conductive probe for measuring beam profile, where graphite material has thermal conductivity of specific value.

KITAMURA R, HIRANO K

Photoelectric surface for use as electron source in device, has window material, photoelectric conversion layer provided with light-incident surface and electron emission surface, and carbon layer provided on electron emission surface.

HIROYUKI T, RYOTARO I, MOTOHIRO S, TOMOHIKO H, TAKETOMI H, ISHIKAWA R, SUYAMA M, HIRANO T