国家/地区 中国（111） 美国（111） 世界知识产权组织（78） 韩国（68） 日本（57） 欧洲专利局（EPO）（40） 台湾（20） 英国（15） 德国（11） 澳大利亚（7） 印度（6） 法国（5） 香港（4） 新加坡（4） 加拿大（3） 土耳其（2）
IPC部 C（212）
IPC大类 C01（212）
IPC小类 C01B（212） H01L（125） C23C（95）
B82Y（64） H01B（44） H01M（42）
H01G（27） C30B（19） B32B（18）
B01J（14） H01J（12） C01G（11）
B05D（9） G01N（7） C04B（6）
IPC C01B032/186（212）
发明人 SHIN H（12） SHIN K（11） SHIN H J（10）
SHIN K W（10） LEE C（9） BYUN K（8）
GUINEY I（8） LEE C S（8） MATSUMOTO T（8）
THOMAS S（8） BYUN K E（7） IFUKU R（7）
LEE E（7） LI J（7） LI Y（7）
公开年 2021（42） 2022（38） 2020（26） 2017（19） 2023（16） 2015（13） 2016（13） 2018（12） 2019（11） 2014（9） 2013（6） 2012（4）
申请年 2020（35）  2021（34）  2022（32）  2019（22）  2017（19）  2015（14）  2016（14）  2014（13）  2013（10）  2018（9）  2012（4）  2011（3）  2010（2） 
专利权人 SAMSUNG ELEC.（19） PARAGRAF LTD（9） TOKYO ELECTR.（9） UNIV IMAM AB.（5）
CALIFORNIA I.（4） COMMISSARIAT.（4） HANWHA TECHW.（4） NAT INST ADV.（4）
SAMSUNG TECH.（4） UNIV CALIFOR.（4） TOSHIBA KK（3） UNIV SINGAPO.（3）
UNIV SUNGKYU.（3） UNIV SUNGKYU.（3） UNIV ZHEJIAN.（3） VAON LLC（3）
YAZAKI CORP（3） APPLIED MATE.（2） BEIJING GRAP.（2） CENT ADVANCE.（2）

Method for fabricating two-dimensional channel transistor involves growing hexagonal-boron nitride layer on substrate, selectively etching hexagonal-boron nitride layer by exposing hexagonal-boron nitride layer to sulfur hexafluoride plasma gas, and treating etched layer in potassium hydroxide.

SHRIVASTAVA M, RAWAT J S, MEERSHA A

Hard mask film used in etching process for manufacturing semiconductor device, comprises first graphene layer, first amorphous carbon layer on first graphene layer, second graphene layer on first amorphous carbon layer, and second amorphous carbon layer on second graphene layer.

KIM Y, OH S, AN S, AHN S J, OH S R, KIM Y U, AN X

Depositing graphene or graphene oxide onto substrate from gaseous source of carbon precursor involves using plasma-enhanced chemical vapor deposition method, where carbon precursor consists of ethylene and the process is carried out in absence of carrier gas.

JOUIAD M, EL MARSSI M, LEJEUNE M

Semiconductor device comprises interconnection structure comprises seed layer disposed on first conductive layer, seed layer including graphene; and metal migration barrier layer disposed on seed layer, metal migration barrier layer including MXene.

HAN J H, KOO W T, HAN Z, KOO W, TAE K W

Graphene interconnect structure useful for electronic device comprises first oxide dielectric layer including porous silicon oxide, or amorphous boron nitride, second oxide dielectric layer including aluminum oxide and graphene layer.

KIM C, BYUN K E, SHIN K W, LEE C S, BAEKWON P, PARK B, LEE C, SHIN K, BYUN K

Improving quality of metal catalytic thin layer prepared by sputtering comprises cleaning Si/SiO2 substrate, photoetching the pattern, sputtering a layer of metal thin layer with the graphene of catalyzing and growing on the substrate sheet by using the sputtering table, peeling and etching.

ZHAO Y, YU X, LIU Z, NIE X, SONG Z, DENG J, HE X

Preparing a sponge nickel-loaded nitrogen and fluorine double-doped vertical graphene useful in e.g. preparing anode and cathode materials for lithium-sulfur batteries, comprises e.g. obtaining Ni(AC)2 aqueous solution, adding N2H4H2O and mixing to obtain reaction solution.

TU J, WANG X, QIU Z, XIA X

Manufacture of wiring used in electronic device, involves growing graphene layer on substrate using plasma of hydrocarbon at specific temperature by plasma enhanced chemical vapor deposition, and doping graphene layer with metal.

LEE C, LEE M, SHIN H, BYUN K, KIM K, SHIN K, SHIN K W, KIM K B, BYUN K E, SHIN H J, HYUN L, LEE C S

Depositing graphene barrier film, involves placing substrate containing the titanium thin film layer into substrate processing system chamber forming processing space, supplying first reaction gas into chamber, supplying second reaction gas, and forming graphene layer on titanium thin film layer.

PARK J, LI J, JIN D, SUN W, KIM T, YIN Y, TIAN Z, BAK H, PARK J H, LEE K J, KIM D W, SUN W H, KIM T S, YOON W J, JEON J H, PARK H K, PARK H, JEONJINHO, YUN W J, WOO K D, LEE K

Growing graphene layer structure on substrate used in opto-electronic device, e.g., solar cell, solar cell, light-emitting diode, organic light-emitting diode, electro-optic modulator, photodetector or diode, involves providing substrate on susceptor in chemical vapor deposition reaction chamber.

THOMAS S, GUINEY I, DIXON S